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XRF- X荧光光谱仪产物介绍

XRF- X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。 
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。 
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

XRF- X荧光光谱仪性能特点

高效超薄窗X光管，指标达到较高水平 
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 
天瑞仪器产物&mdash信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上 
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好 
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 
自动稳谱装置保证了仪器工作的*性
高信噪比的电子线路单元 
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头 
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

XRF- X荧光光谱仪技术参数

产物型号：EDX 4500H
产物名称：X荧光光谱仪 
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm&mdash99.99（不同元素，分析范围不同） 
同时分析元素：一次性可测几十种元素 
分析精度：0.05 （含量高于96以上的样品、21次测试稳定性） 
测量时间：30秒200秒 
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV50KV 
管流：50&muA1000&muA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V220V
环境温度：15℃30℃ 
环境湿度：3570
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

XRF- X荧光光谱仪标准配置

高效超薄窗X光管 
SDD硅漂移探测器 
数字多道技术
信噪比增强器 SNE
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
内置高清晰摄像头 
自动切换型准直器和滤光片 
自动稳谱装置 
叁重安全保护模式 
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

XRF- X荧光光谱仪应用领域

XRF-X荧光光谱仪广泛应用于合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素） 、镀层检测等行业。