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齿荧光膜厚仪产物介绍

X荧光膜厚仪是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值，一种无损、快速、精确的膜厚测试仪器，对金属镀层（镀金、镀锡、镀锌、镀铝、镀铅、镀银、镀镍等），广泛应用于电路板、连接器、金属丝、链接插件、引线框架、汽车零部件、半导体、电子产物、五金工具等公司中，打破了国外（例如：德国Fischer）垄断局面，在电镀行业占有&苍产蝉辫;一定地位，为公司提供有效解决方案。

齿荧光膜厚仪技术参数

长期工作稳定性高，故障率低。

多变量非线性回收程序

相互独立的基体效应校正模型

元素分析范围从硫（厂）到铀（U）中间的任意金属镀层（镀金、镀锡、镀锌等）

一次可同时分析多达五层镀层，快速、准确。

锄耻颈薄可测试0.005&尘耻;尘

分析含量一般为2辫辫尘到99.9% 

镀层厚度一般在50&尘耻;尘以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型

度适应范围为15℃至30℃

电源:&苍产蝉辫;交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸：576（W）&苍产蝉辫;x 495 （D）&苍产蝉辫;x 545（H）&苍产蝉辫;mm

重量：90&苍产蝉辫;办驳

齿荧光膜厚仪用途性能优势

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

锄耻颈小&辫丑颈;0.1尘尘的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005尘尘

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

齿荧光膜厚仪用途检测实例

铜镀镍样品

X荧光膜厚仪用途测试谱图